測(cè)厚儀檢查規(guī)章2

測(cè)厚儀檢查規(guī)章2
101　數(shù)顯分度頭檢定規(guī)程　　　　　　　　　　　　　　　　　JJG606—1989
　　102　　光學(xué)分度頭檢定規(guī)程(代替JJG57—1978)　　　　　　　　JJG57—1984
　　103　光學(xué)分度臺(tái)檢定規(guī)程(代替JJG305—1982)　　　　　　 　JJG305—1992
　　104　　光學(xué)角規(guī)檢定規(guī)程　　　　　　　　　　　　　　　　　 JJG850—1993
　　105　　組合式角度規(guī)檢定規(guī)程　　　　　　　　　　　　　　　 JJG132—1994
　　106　　測(cè)角儀檢定規(guī)程(代替JJG97—1961)　　　　　　　　　　JJG97—1981
　　107　　自準(zhǔn)直儀檢定規(guī)程(代替JJG202—1980)　　　　　　　　 JJG202—1990
　　108　　光學(xué)測(cè)角比較儀試行檢定規(guī)程　　　　　　　　　　　　 JJG203—1980
　　109　　小角度檢查儀試行檢定規(guī)程　　　　　　　　　　　　　 JJG300—1982
　　110　　角位移傳動(dòng)鏈誤差檢查儀檢定規(guī)程　　　　　　　　　　 JJG766—1992
　　111　　氣動(dòng)浮標(biāo)式測(cè)量?jī)x試行檢定規(guī)程　　　　　　　　　　　 JJG356—1984
　　112　　氣動(dòng)指針式測(cè)量?jī)x檢定規(guī)程(代替JJG466—1986)　　　 　JJG466—1993
　　113　　電感式比較儀試行檢定規(guī)程　　　　　　　　　　　　　 JJG396—1985
　　114　　量?jī)x測(cè)力儀檢定規(guī)程　　　　　　　　　　　　　　　　 JJG787—1992
　　115　立臥式光學(xué)計(jì)檢定規(guī)程(代替JJG45—1974JJG47—1975)　 JJG45—1986
　　116　0.2μm光學(xué)計(jì)檢定規(guī)程(代替規(guī)(G)長(zhǎng)—9—1965JJG53—1977)JJG53—1986
　　117　測(cè)長(zhǎng)機(jī)檢定規(guī)程(代替JJG54—1976)　　　　　　　　　　JJG54—1984
　　118　測(cè)長(zhǎng)儀檢定規(guī)程(代替規(guī)(G)長(zhǎng)—5—1965、JJG55—1959)　JJG55—1984
　　119　工具顯微鏡檢定規(guī)程(代替JJG56—1976JJG65—1976)　　 JJG56—1984
　　120　接觸式干涉儀檢定規(guī)程(代替規(guī)(G)長(zhǎng)—32—1965)　　　　JJG101—1981